Дифракционные методы неразрушающего контроля реальной структуры эпитаксиальных и поликристаллических пленок в микроэлектронике : Обзоры по электронной технике / Г.Ф. Кузнецов, С.А. Семилетов; Министерство электронной промышленности СССР.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Մատենաշար։ МикроэлектроникаՀրատարակման մանրամասներ։ Москва : ЦНИИ "Электроника", 1975.Նկարագրություն։ 94 cԽորագրեր։
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
Scientific Technical Library | Գրքային հավաքածու | 621.38 К 891 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Three Hour Loan | 50-23547 |
Библиогр.: с. 86 - 94 (170 назв.)
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։