Պատկեր Amazon.com -ից
Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] / edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Անգլերեն Մատենաշար։ NATO advanced study institutes series. Series B Physics ; v. 63Հրատարակման մանրամասներ։ New York : Plenum Press, 1980.Նկարագրություն։ xxvi, 589 p. : ill. ; 26 cmISBN: - 0-306-40628-4
- 548/.5 19
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
Yerevan State University Library | Բնական գիտությունների ընթերցասրահ | 548 T-19 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Reading Room | SU0071737 |
Դիտման Yerevan State University Library դարակ, Հավաքածու։ Բնական գիտությունների ընթերցասրահ Փակիր դարակի դիտակը (Թաքցնում է դարակի դիտակը)
|
|
|
|
|
|
|
||
| 548 M-78 Modern perspectives in inorganic crystal chemistry / | 548 M-91 Crystallisation / | 548 S-54 Semiconductor silicon crystal technology / | 548 T-19 Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : | 548 T-44 Theory and applications of liquid crystals / | 548 W-15 Optical crystallography / | 548 W-96 Crystal structures / |
"Published in cooperation with NATO Scientific Affairs Division."
Includes bibliographical references and index.
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։