000			01763nam a2200193 a 4500
001			001091046
003			AM-YeNLA
005			20190508152952.0
008			150706s1976 ru 000 0 rus d
040			_aAM-YeHGA
041	0		_arus
111	2		_aВсесоюзный симпозиум _n(9 : _d1976 ; _cМинск)
245	1	0	_aМетоды представления и аппаратурный анализ случайных процессов и полей : _bТезисы докладов 9-го Всесоюзного симпозиума (г. Минск, май 1976 г.) / _cВсесоюз. науч.-исслед. ин-т электроизмер. приборов.
260			_aЛенинград : _bБ. и., _c1976-.
300			_aсекция.
505	0	0	_gСекция 1 (1976, 117 с., ил.) _iТеория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик _gСекция 2 (1976, 103 с., ил.) _iСредства измерения вероятностных характеристик _gСекция 3 (1976, 106 с., ил.) _iМетоды представления случайных величин, процессов и полей _gСекция 4 (1976, 99 с., ил.) _iМоделирование случайных величин, процессов и полей _gСекция 5 (1976, 125 с., ил.) _iМетоды и алгоритмы измерения вероятностных характеристик
650	1	4	_aСлучайные процессы (мат.)
710	2		_aВсесоюзный научно-исследовательский институт электроизмерительных приборов
999			_c966810 _d966810