| 000 | 01127nam a2200241 u 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000120177 | ||
| 005 | 20230827113243.0 | ||
| 008 | 990113s1972 ||||||||||||||||||||rus d | ||
| 040 | _aAM, AiYeEPHG, 19990113 | ||
| 100 | 1 | _aШиммель, Г. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aМетодика электронной микроскопии / _cГ. Шиммель ; Под ред. В.Н. Рожанского ; Пер. с нем. А.М. Розенфельда, М.Н. Спасского. |
| 260 |
_aМосква : _bМир , _c1972. |
||
| 300 |
_a300 с. : _bил. |
||
| 504 | _aБиблиогр.: с. 285 - 292 | ||
| 534 |
_pОригинал на нем. : _iElektronenmikroskopische Methodik / _aG. Schimmel- _cBerlin : Springer-Verlag : 1969 |
||
| 650 | 1 | 4 | _aЭлектронная микроскопия |
| 653 | 2 | _aдифракция на пространственной решетке | |
| 653 | 2 | _aрасчет электронограмм | |
| 700 | 1 |
_aРозенфельд, А.М. _eпер. _4trl _9337321 |
|
| 700 | 1 |
_aСпасский, М.Н. _eпер. _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aРожанский, В.Н. _eред. _4edt |
|
| 999 |
_c94524 _d94524 |
||
| 942 | _cBK | ||