000 | 00825nam a2200181 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000840495 | ||
005 | 20170507222802.0 | ||
008 | 111021s1973 ru r 000 0 rus d | ||
040 | _aAM-YeHGA | ||
041 | 0 | _arus | |
100 | 1 | _aПотапов, Ю. В. | |
245 | 1 | 0 |
_aМетоды измерения параметров полупроводников : _bКурс лекций : Учебное пособие / _cЮ.В. Потапов; Московский институт стали и сплавов. |
260 |
_aМосква : _bБ. и., _c1973. |
||
300 | _aчасть. | ||
505 | 1 | 0 |
_gЧ. 3 (1973.128 с.) _iНеравновесные процессы |
653 | 0 | _aПолупроводники - Параметры - Измерение | |
710 | 2 | _aМосковский институт стали и сплавов | |
999 |
_c744892 _d744892 |