000 00825nam a2200181 a 4500
001 000840495
005 20170507222802.0
008 111021s1973 ru r 000 0 rus d
040 _aAM-YeHGA
041 0 _arus
100 1 _aПотапов, Ю. В.
245 1 0 _aМетоды измерения параметров полупроводников :
_bКурс лекций : Учебное пособие /
_cЮ.В. Потапов; Московский институт стали и сплавов.
260 _aМосква :
_bБ. и.,
_c1973.
300 _aчасть.
505 1 0 _gЧ. 3 (1973.128 с.)
_iНеравновесные процессы
653 0 _aПолупроводники - Параметры - Измерение
710 2 _aМосковский институт стали и сплавов
999 _c744892
_d744892