000 00983nam a2200217 u 4500
001 000085123
005 20230826222035.0
008 950417s1990 ||||||||||||||||||||rus d
020 _a5-217-00915-2
040 _aAM, AiYeEPHG, 19981015
100 1 _aНахмансон, Михаил Сергеевич
245 1 0 _aДиагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами /
_cМ.С. Нахмансон, В.Г. Фекличев.
260 _aЛенинград :
_c1990.
300 _a356,[1] с.
_c22 см.
504 _aБиблиогр.: с. 345-355 (223 назв.)
650 1 4 _aОбработка результатов на вычислительных машинах
650 1 4 _aРентгеноструктурный анализ
650 1 4 _aСпектральный анализ
700 1 _aФекличев, Владимир Георгиевич
999 _c63053
_d63053
942 _cBK