000 | 01102nam a2200205 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000626381 | ||
003 | AM-YeNLA | ||
005 | 20190426142345.0 | ||
008 | 090122s1986 ||| r 000 0 rus d | ||
040 | _aAM-YeHGA | ||
041 | 0 |
_arus _aeng |
|
111 | 2 |
_a"Свойства и структура дислокаций в полупроводниках", междунар. конф. _n(5 ; _d1986 ; _cМосква) |
|
245 | 1 | 0 |
_aV международная конференция "Свойства и структура дислокаций в полупроводниках" : _bV International symposium "Structure and properties of dislocations in semiconductors": Программа и тезисы, Москва, CCCP, 17-22 март. |
246 | 3 | 1 | _aV International symposium "Structure and properties of dislocations in semiconductors" |
260 |
_aМосква : _bИФТТ, _c1986. |
||
300 | _a175 с. | ||
546 | _aЧасть текста: англ. | ||
550 | _aАН СССР, Ин-т физики твердого тела | ||
653 | 0 | _aПолупроводники - Дислокации | |
999 |
_c547060 _d547060 |