000 00880nam a2200217 a 4500
001 000603148
003 AM-YeNLA
005 20190426140932.0
008 081006s2008 pl a r 000 0 pol d
040 _aAM-YeHGA
041 0 _apol
_beng
100 1 _aRożniatowski, Krzysztof
245 1 0 _aMetody charakteryzowania niejednorodności rozmieszczenia elementów strukturalnych w materiałach wielofazowych /
_cKrzysztof Rożniatowski.
260 _aWarszawa :
_bOficyna wydaw. Politech. warszawskiej,
_c2008.
490 1 _aPrace naukowe. Inżynieria materiałowa / Politech. warszawska
_x1234-5229
_vZ. 22
500 _aDescribed from cover. On the title -page only the title of serie
504 _aBibliogr. :p. 83-89
650 1 4 _aChemical technology
710 2 _aPolitechnika warszawska
830 0 _aPrace naukowe. Inżynieria materiałowa / Politech. warszawska
_vZ. 22
999 _c525163
_d525163