| 000 | 01118nam a2200229 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000599163 | ||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20190426140726.0 | ||
| 008 | 080912s1970 ru |||||r|||||000|0|rus d | ||
| 040 | _aAM, ACSTI | ||
| 041 | 0 | _arus | |
| 100 | 1 | _aДокунина, Наталия Ивановна | |
| 245 | 1 | 0 |
_aИзмерение толщины тонких пленок отличающихся электрофизическими свойствами / _cН.И. Докунина; М-во электронной промышленности СССР. |
| 260 |
_aМосква : _bИн-т "Электроника", _c1970. |
||
| 300 | _a31 с. | ||
| 440 | 0 | _aОбзоры по электронной технике | |
| 440 | 0 |
_aКонтрольно-измерительная аппаратура _vВып. 7 (181) |
|
| 504 | _aБиблиогр. : с. 28 - 29 | ||
| 650 | 1 | 4 | _aЭлектрофизические свойства пленок |
| 653 | 1 | _aполупроводниковые приборы | |
| 710 | 2 | _aМинистерство электронной промышленности СССР | |
| 999 |
_c521455 _d521455 |
||