000			01054nam a2200241 a 4500
001			000577107
003			AM-YeNLA
005			20190426135501.0
008			080222s1976 ru |||||r|||||000|0|rus d
040			_aAM, ACSTI
041	0		_arus
245	0	0	_aМетоды измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках : _bобзоры по электронной технике: по данным отечественной и зарубежной печати за 1934 - 1976 г. / _cЮ.К. Крутоголов и др.
260			_aМосква : _bЭлектроника, _c1976.
300			_a32 с.
440		0	_aСер. 6. "Материалы"
504			_aБиблиогр.: с. 29 - 32(81 назв.)
650	1	4	_aПолупроводники
653	1		_aметоды измерения
700	1		_aКрутоголов, Ю.К.
700	1		_aФомин, И.А.
700	1		_aБыковский, А.Г.
700	1		_aЛебедева, Л.В.
999			_c500990 _d500990