| 000 | 01330nam a2200241 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000399099 | ||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20190426114417.0 | ||
| 008 | 041123s1988 ai r 000 0 eng d | ||
| 041 | 1 | _aeng | |
| 245 | 0 | 0 |
_aМетод экспрессного определения степени нарушенности кристаллов с использованием синхротронного излучения : _bЕФИ-1117(80)-88 / _cИ.П. Карабеков, Д.Л. Егикян, Р.А. Микаелян и др.; ЕФИ, ЦНИИатоминформ. |
| 246 | 1 | 1 | _aAn Express Method for Determination of Crystal Perfection Using Synchrotron Radiation |
| 260 |
_aЕреван : _bБ. и., _c1988. |
||
| 300 |
_a14 с. _bрис. ; _c21 см. |
||
| 504 | _aБиблиогр.: с. 11 (6 наим.) | ||
| 546 | _aТекст на англ. яз. | ||
| 650 | 1 | 4 | _aФизика |
| 700 | 1 | _aКарабеков, И.П. | |
| 700 | 1 | _aЕгикян, Д.Л. | |
| 700 | 1 | _aМикаелян, Р.А. | |
| 710 | 2 | _aЕреванский физический институт | |
| 710 | 2 | _aЦентральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований по атомной науке и технике | |
| 999 |
_c338569 _d338569 |
||