000			01194nam a2200277 a 4500
999			_c290983 _d290983
001			000349654
003			AM-YeNLA
005			20181224154830.0
008			040708s1976 ai r 000 0 rus d
040			_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA
041	0		_arus
080			_a621.382 (NLA)
245	0	0	_aИсследование механических свойств контакта сферический идентор-полупроводник на растровом электронном микроскопе / _cГ.Г. Бабаян, В.И. Петров, Ю.А. Голубев, С.Г. Асатрян, Е.С. Добрынина; ЕФИ.
260			_aЕреван : _bАрус, _c1976.
300			_a16 с. : _bил., граф. ; _c20 см.
440		0	_aНаучное сообщение ЕФИ _v179(25)-(76)
504			_aБиблиогр.: с. 13 (19 наим.)
650	1	4	_aФизика _93
700	1		_aБабаян, Г.Г. _922464
700	1		_aПетров, В.И.
700	1		_aГолубев, Ю.А.
700	1		_aАсатрян, С.Г.
700	1		_aДобрынина, Е.С.
710	2		_aЕреванский физический институт
942			_2udc _cBK