000			01452nam a2200265 a 4500
999			_c285077 _d285077
001			000343578
003			AM-YeNLA
005			20190613105240.0
008			040615s1975 ai r 000 0 rus d
040			_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA
041	0		_arus
080			_a548.4 (NLA)
245	0	0	_aНекоторые вопросы прямого наблюдения дефектов (дислокаций) в почти совершенных кристаллах / _cП.А. Базирганян, С.А. Шабоян, В.И. Авунджян, К.Т. Аветян; ЕГУ, Ереванское спец. проектно-констр. и технолог. бюро полупроводник. техники.
260			_aЕреван : _bБ. и., _c1975.
300			_a72 с. _bил. ; _c21 см.
504			_aБиблиогр. : с. 68-70
650	1	4	_aПолупроводниковая техника
700	1		_aБазирганян, П.А.
700	1		_aШабоян, С.А.
700	1		_aԱվունջյան, Վազգեն Իսկանդարի, _d1923- _910248
700	1		_aԱվետյան, Կոլյա Թորգոմի, _d1931- _91459
710	2		_aЕреванский государственный университет
710	2		_aЕреванское специальное проектно-конструкторское и технологическое бюро полупроводниковой техники
942			_2udc _cBK