000 | 01208nam a2200217 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000341773 | ||
005 | 20170506130443.0 | ||
008 | 040608s1970 ||| r 000 0 rus d | ||
040 | _aAM, ACSTI | ||
041 | 0 | _arus | |
245 | 0 | 0 |
_aСтатистические методы анализа и контроля качества в полупроводниковом производстве : _bОбзоры по электронной технике / _cВ.П. Кульвинова, Т.А. Иоаннисянц, А.И. Кочетков и др.; Министерство электронной промышленности СССР. |
260 |
_aМосква : _bИнститут "Электроника", _c1970. |
||
300 |
_a34 с. _bтабл. |
||
440 | 0 |
_aТехнология и организация производства _nВып. 11 (183) |
|
504 | _aБиблиогр.: с. 32 (6 назв.) | ||
650 | 1 | 4 | _aПолупроводниковое производство |
700 | 1 | _aКульвинова, В.П. | |
700 | 1 | _aИоаннисянц, Т.А. | |
700 | 1 | _aКочетков, А.И. | |
710 | 2 | _aМинистерство электронной промышленности СССР | |
999 |
_c283309 _d283309 |