000 01138nam a2200217 a 4500
001 000335810
005 20221203180654.0
008 040518s1978 ||| r 000 0 rus d
040 _aAM, ACSTI
041 0 _arus
245 0 0 _aМеханизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов :
_bОбзоры по электронной технике. Реферативно - аналитический обзор /
_cА.М. Нечаев, Е.А. Рубаха, В.Ф. Синкевич; Мин-во электронной промышленности СССР.
260 _aМосква :
_bЦНИИ "Электроника",
_c1978.
300 _a80 с.
_bил.
440 0 _aСерия 2. Полупроводниковые приборы
_nВып. 10
504 _aБиблиогр.: с. 73 - 80 (117 назв.)
650 1 4 _aНадежность мощных СВЧ транзисторов
700 1 _aНечаев, А.М.
700 1 _aРубаха, Е.А.
700 1 _aСинкевич, В.Ф.
710 2 _aМин-во электронной промышленности СССР
999 _c277566
_d277566