| 000 | 01227nam a2200217 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000332789 | ||
| 005 | 20170506124006.0 | ||
| 008 | 040507s1981 ||| r 000 0 rus d | ||
| 040 | _aAM, ACSTI | ||
| 041 | 0 | _arus | |
| 245 | 0 | 0 |
_aМеханизмы отказов и надёжность транзисторов на арсениде галлия : _bОбзоры по электронной технике / _cА.М. Нечаев, В.Ф. Синкевич, Е.И. Соколова, Н.В. Степанова; Министерство электронной промышленности СССР. |
| 260 |
_aМосква : _bЦНИИ "Электроника", _c1981. |
||
| 300 |
_a42 с. _bрис. |
||
| 440 | 0 |
_aПолупроводниковые приборы _nВып. 2 (778) |
|
| 504 | _aБиблиогр.: с. 39 - 41 (44 назв.) | ||
| 650 | 1 | 4 | _aТранзисторы - Отказ и надёжность |
| 700 | 1 | _aНечаев, Андрей Мартынович | |
| 700 | 1 | _aСинкевич, Владимир Фёдорович | |
| 710 | 2 | _aМинистерство электронной промышленности СССР | |
| 700 | 1 | _aСтепанова, Наталья Вениаминовна | |
| 999 |
_c274717 _d274717 |
||