000 | 01149nam a2200205 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000329727 | ||
005 | 20170506123210.0 | ||
008 | 040422s1978 ||| r 000 0 rus d | ||
040 | _aAM, ACSTI | ||
041 | 0 | _arus | |
100 | 1 | _aКормилицын, Л.М. | |
245 | 1 | 0 |
_aСовременные методы неразрушающего контроля качества и оценки надежности микросхем : _bОбзорная информация / _cЛ.М. Кормилицын, В.Ф. Толкачев; БелНИИНТИ и ТЭИ Госплана БССР. |
260 |
_aМинск : _bБелНИИНТИ, _c1978. |
||
300 | _a46 с. | ||
440 | 0 | _aАвтоматика и вычислительная техника | |
504 | _bБиблиогр.: 42 назв. | ||
650 | 1 | 4 | _aВычислительная техника |
700 | 1 | _aТолкачев, В.Ф. | |
710 | 2 | _aБелорусский научно - исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований Госплана БССР | |
999 |
_c271856 _d271856 |