000 01149nam a2200205 a 4500
001 000329727
005 20170506123210.0
008 040422s1978 ||| r 000 0 rus d
040 _aAM, ACSTI
041 0 _arus
100 1 _aКормилицын, Л.М.
245 1 0 _aСовременные методы неразрушающего контроля качества и оценки надежности микросхем :
_bОбзорная информация /
_cЛ.М. Кормилицын, В.Ф. Толкачев; БелНИИНТИ и ТЭИ Госплана БССР.
260 _aМинск :
_bБелНИИНТИ,
_c1978.
300 _a46 с.
440 0 _aАвтоматика и вычислительная техника
504 _bБиблиогр.: 42 назв.
650 1 4 _aВычислительная техника
700 1 _aТолкачев, В.Ф.
710 2 _aБелорусский научно - исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований Госплана БССР
999 _c271856
_d271856