000			01217nam a2200229 a 4500
001			000324382
005			20170519223813.0
008			040406s1989 ||| r 000 0 rus d
020			_a5-02-028690-7
040			_aAM, ACSTI
041	0		_arus
245	0	0	_aДифрактометрия с использованием синхротронного излучения / _cВ.В. Болдырев и др. ; Отв. ред. Г.Н. Кулипанов ; ИХТТ СО АН СССР ; ПМС ; ИЯФ.
260			_aНовосибирск : _bНаука. Сибирское отделение, _c1989.
300			_a145 с. : _bил.
504			_aБиблиогр. в конце глав.
650	1	4	_aРентгенографический анализ кристаллов. Рентгенографическое исследование структуры
700	1		_aБолдырев, В.В.
700	1		_aКулипанов, Г.Н. _eред. _4edt
710	2		_aИнститут биофизики
710	2		_aИнститут химии твердого тела и переработки минерального сырья СО АН СССР
710	2		_aИнститут ядерной физики
999			_c266766 _d266766