| 000 | 01534nam a2200277 u 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000263319 | ||
| 005 | 20190422163612.0 | ||
| 008 | 030918s2002 ||| r 000 0 rus d | ||
| 020 | _a5-02-024963-7 | ||
| 040 | _aAM-YeHGA | ||
| 100 | 1 | _aБоуэн, Д.К. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aВысокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = _bHigh resolution x-ray diffractometry and topography / _cД.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой. |
| 246 | 3 | 1 | _aHigh resolution x-ray diffractometry and topography |
| 260 |
_aСанкт-Петербург : _bНаука, _c2002. |
||
| 300 |
_a273 с. _bил. |
||
| 504 | _aБиблиогр. в конце гл. | ||
| 650 | 1 | 4 | _aЭлектронная техника |
| 650 | 1 | 4 | _aКристаллофизика |
| 650 | 1 | 4 |
_aРадиотехнические материалы и изделия _xПолупроводниковые материалы _xИсследования _xРентгеновские методы исследований |
| 653 | 0 | _aАнализ эпитаксиальных слоев | |
| 653 | 0 | _aАнализ тонких пленок и многослойных систем | |
| 700 | 1 | _aТаннер, Б.К. | |
| 700 | 1 |
_aШульпина, И.Л. _eред. _4edt _eпер _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aШульпина, И.Л. _eпер. _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aАргунова, Т.С. _eпер. _4trl |
|
| 999 |
_c218486 _d218486 |
||