| 000 | 01226nam a2200265 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c1709497 _d1709475 |
||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20201012130958.0 | ||
| 008 | 201012s1988 ru a|||frf||||001|0|rus|d | ||
| 020 | _a5-02-005964-1 | ||
| 040 |
_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA |
||
| 041 | 0 | _arus | |
| 080 | _a669 (NLA) | ||
| 100 | 1 | _aЛевицкий, Юрий Тимофеевич | |
| 245 | 1 | 0 |
_aМакроскопические дефекты кристаллической структуры и свойства материалов / _cЮ. Т. Левицкий; Отв. ред. Н. С. Костюков; АН СССР, Дальневост. отд-ние, Амур. комплекс. НИИ. |
| 260 |
_aМосква : _bНаука, _c1988. |
||
| 300 |
_a199,[1] с.: _bил. ; _c22 см. |
||
| 504 | _aБиблиогр.: с. 185-198 (345 назв.) | ||
| 650 | 1 | 4 |
_aМеталлы _xДефекты |
| 650 | 1 | 4 |
_aПолуметаллы _xДефекты |
| 650 | 1 | 4 |
_aПолупроводники _xДефекты |
| 700 | 1 |
_aКостюков, Н. С. _eред. _4edt |
|
| 710 | 2 |
_aАН СССР, Дальневост. отд-ние _b Амурский комплексный НИИ |
|
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 998 | _cNLANOYEM_20 | ||