000 00794nam a2200193 a 4500
001 000376997
003 AM-YeNLA
005 20190426111628.0
008 040305s1982 ai r 000 0 rus d
041 0 _arus
100 1 _aВагаршакян, В.А.
245 1 0 _aДиагностический анализ аналоговой аппаратуры системы контроля параметров пучка :
_bЕФИ-542(29)-82 /
_cВ.А. Вагаршакян, Г.Г. Мкртчян; ЕрФИ.
260 _aЕреван :
_bБ. и.,
_c1982.
300 _a14 с. ;
_bрис. ;
_c21 см.
504 _aБиблиогр.: с. 13 (7 наим.)
650 1 4 _aФизика
700 1 _aМкртчян, Г.Г.
710 2 _aЕреванский физический институт
999 _c1586133
_d1586115