000 01343nam a2200229 a 4500
999 _c1540441
_d1540423
003 AM-YeNLA
005 20190326100549.0
008 190326s1972 sw fr 000 0 rus d
040 _aAM-YeNLA
_brus
_cAM-YeNLA
041 0 _arus
245 0 0 _aОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений :
_bПубликация 147-2B : Второе дополнение к публикации 147-2 (1963) /
_cМеждунар. электоротехн. комиссия.
250 _a1-е изд.
260 _aЖенева :
_bКомит. по участию СССР в Междунар. энерг. объединениях.
_c1972.
300 _aчасть.
490 0 _aРекомендация МЭК
_vПубл. 147-2В
505 1 0 _gЧ. 2 (1972, 30 с., черт.)
_tОбщие принципы измерений
650 1 4 _aПолупроводниковые приборы
_xОбщие принципы измерений
_vРекомендация МЭК
653 0 _aПолупроводниковые приборы
710 2 _aМеждунар. электоротехн. комиссия.
942 _2udc
_cBK
998 _cNLARUZANNA_11