000			01351nam a2200229 a 4500
999			_c1540410 _d1540392
003			AM-YeNLA
005			20190326095110.0
008			190326s1976 sw fr 000 0 rus d
040			_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA
041	0		_arus
245	0	0	_aОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений : _bПубликация 147-3A : Первое дополнение к публикации 147-3 (1970) / _cМеждунар. электоротехн. комиссия.
250			_a1-е изд.
260			_aЖенева : _bКомит. по участию СССР в Междунар. энерг. объединениях. _c1976.
300			_aчасть.
490	0		_aРекомендация МЭК _vПубл. 147-3А
505	1	0	_gЧ. 3 (1976, 20 с., черт.) _tЭталонные методы измерений
650	1	4	_aПолупроводниковые приборы _xЭталонные методы измерений _vРекомендация МЭК
653	0		_aПолупроводниковые приборы
710	2		_aМеждунар. электоротехн. комиссия.
942			_2udc _cBK
998			_cNLARUZANNA_11