| 000 | 01428nam a2200229 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c1540318 _d1540300 |
||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20190325162752.0 | ||
| 008 | 190325s1976 sw fr 000 0 rus d | ||
| 040 |
_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA |
||
| 041 | 0 | _arus | |
| 245 | 0 | 0 |
_aОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений : _bПубликация 147-1 / _cМеждунар. электоротехн. комиссия. |
| 250 | _aИзд. 2-е | ||
| 260 |
_aЖенева : _bКомит. по участию СССР в Междунар. энерг. объединениях. _c1976. |
||
| 300 | _aчасть. | ||
| 490 | 0 |
_aРекомендация МЭК _vПубл. 147-1 |
|
| 505 | 1 | 0 |
_gЧ. 1 (1976, 46 с., черт.) _tОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики |
| 650 | 1 | 4 |
_aПолупроводниковые приборы _xОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики _vРекомендация МЭК |
| 653 | 0 | _aПолупроводниковые приборы | |
| 710 | 2 | _aМеждунар. электоротехн. комиссия. | |
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 998 | _cNLARUZANNA_11 | ||