000 01481nam a2200217 a 4500
999 _c1540253
_d1540235
003 AM-YeNLA
005 20190325155051.0
008 190325s1979 sw fr 000 0 rus d
040 _aAM-YeNLA
_brus
_cAM-YeNLA
041 0 _arus
245 0 0 _aОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений :
_bПубликация 147-IG 1972 : Седьмое дополнение к публикации 147-1 (1962) /
_cМеждунар. электоротехн. комиссия.
260 _aЖенева :
_bКомит. по участию СССР в Междунар. энерг. объединениях.
_c1979.
300 _aчасть.
490 0 _aРекомендация МЭК
_vПубл. 147-IG
505 1 0 _gЧ. 1 (1979, 22 с., черт.)
_tОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики
650 1 4 _aПолупроводниковые приборы
_xОсновные предельно допустимые величины параметров и характеристики
_vРекомендация МЭК
653 0 _aПолупроводниковые приборы
710 2 _aМеждунар. электоротехн. комиссия.
942 _2udc
_cBK
998 _cNLARUZANNA_11