| 000 | 01101nam a2200217 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c1538101 _d1538083 |
||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20190321091121.0 | ||
| 008 | 190321s1969 ru d||||r|||||001|0|rus|| | ||
| 040 |
_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA |
||
| 041 | 0 | _arus | |
| 080 | _a621.38 (NLA) | ||
| 245 | 0 | 0 |
_aИсследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов : _bСборник статей / _cПод общ. ред. проф. В.П. Короткова |
| 260 |
_aМосква : _bИзд-во стандартов, _c1969. |
||
| 300 |
_a168 с. : _bчерт., табл. ; _c26 см. |
||
| 490 | 0 |
_a[Труды] / Научно-исследовательский институт метрологии вузов _vВып. 4 |
|
| 504 | _aБиблиогр. в конце статей | ||
| 650 | 1 | 4 |
_aДиоды полупроводниковые _xПараметры _xИзмерения _xСборники |
| 700 | 1 |
_aКоротков, Владимир Петрович _eред. _4edt |
|
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 998 | _cNLAVARDUSH_27 | ||