000 00787-am-a2200181-a-4500
001 000184968
005 20190422143354.0
008 990318s1976 xxu 000 0 rus u
020 _c0.72
040 _aAM, AiYeEPHG, 19990318
100 1 _aБацанов, Степан Сергеевич
245 1 0 _aСтруктурная рефрактометрия :
_bУчебное пособие /
_cС.С. Бацанов.
250 _a2-е изд., перераб. и доп.
260 _aМосква :
_bВысшая школа ,
_c1976.
300 _a204 с.
504 _aБиблиогр. 306 назв.
650 1 4 _aМетоды, основанные на измерении интерференции, показателя преломления, поляризации и т.д.
999 _c152859
_d152859