000			01020nam a2200241 a 4500
999			_c1463546 _d1463528
003			AM-YeNLA
005			20190222112926.0
008			190222s1971 ru a|||fr||||u000 0|rus||
040			_aAM-YeNLA _brus _cAM-YeNLA
041	0		_arus
044			_aru
080			_a621.317
100	1		_aЦветков, Д. В.
245	1	0	_aО возможностях частотного метода измерения волновых параметров коротких линий / _cД.В. Цветков ; Иститут точной механики и вычислит. техники АН СССР.
260			_aМосква : _b[б. и.], _c1971.
300			_a35 с. : _bил. ; _c22 см.
490	0		_aИТМ-ВТ. АН СССР
504			_aБиблиогр.: с. 35.
650	1	4	_aПараметров коротких линий.
710	2		_aИститут точной механики и вычислительной техники АН СССР.
942			_2udc _cBK
998			_cNLAACPeriodicals