| 000 | 00769nam a2200205 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 999 |
_c1434949 _d1434931 |
||
| 001 | 000631655 | ||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20181220095524.0 | ||
| 008 | 090212s1950 ru r 000 0 rus d | ||
| 040 |
_aAM-YeHGA _cAM-YeHGA |
||
| 041 | 0 | _arus | |
| 100 | 1 | _aЛевин, Б.М. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aКонтактный метод измерения микрогеометрии поверхности : _bОсновы метода и оптические профилографы / _cБ.М. Левин. |
| 260 |
_aМосква ; _aЛенинград : _bМашгиз, _c1950. |
||
| 300 |
_a192 с. : _bил. |
||
| 504 | _aБиблиогр.: c. 189-190 . | ||
| 650 | 1 | 4 | _aИзмерение плоскостей и сечений |
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 998 | _cFSLAG | ||