000 01070nam a2200265 a 4500
999 _c1360879
_d1360861
003 AM-YeNLA
005 20180523105814.0
008 180523s1986 ru d|||fr||||u000|||rus||
040 _aAM-YeNLA
_brus
_cAM-YeNLA
041 1 _arus
_heng
080 _a620.1
084 _a59.45
_2rugasnti
084 _a22.3
_2rueskl
084 _aГ461.4-6,0
_2rubbk
245 0 0 _aКоличественный электронно-зондовый микроанализ /
_c[Т. Малви, В. Д. Скотт и др.] ; под ред. В. Скотта, Г. Лава ; перевод с англ. [и предисл.] А. И. Козленкова.
260 _aМосква :
_bМир,
_c1986.
300 _a351, [1] с. :
_bил. ;
_c22 см.
500 _aАвт. указаны на обороте тит. л.
650 1 4 _aРентгеноструктурный анализ
700 1 _aМалви, Т.
700 1 _aСкотт, В. Д.
_eред.
700 1 _aЛав, Г.
_eред.
700 1 _aКозленков, А. И.
_eпереводчик
942 _2udc
_cBK