000			02131nam a22002657a 4500
999			_c1340655 _d1340637
003			AM-YeNLA
005			20180405115207.0
008			180405s1983 ru d|||fr|||||001|0|rus||
040			_aAM-YeNLA _cAM-YeNLA
041	0		_arus
100	1		_aЛейфер, Лев Абрамович
245	1	0	_aОценка показателей надежности технических систем на основе поэлементного анализа и обработки данных : _bВ помощь слушателям семинара по надежности и прогрессив. методам контроля качества пром. изделий при Политехническом музее / _cЛ. А. Лейфер ; Методы обработки цензурированных данных о надежности / И. З. Аронов, Е. И. Бурдасов ; Ордена Ленина Всесоюзное общество "Знание", Ордена Трудового Красного Знамени Политехнический музей, Государственный комитет СССР по стандартам, Всесоюзный совет ордена Ленина научно-технических обществ.
260			_aМосква : _bЗнание, _c1983.
300			_a108 с. : _bтабл. ; _c19 см.
504			_aБиблиогр. в конце ст.
650	1	4	_aТехнические системы
700	1		_aАронов, И.З.
700	1		_aБурдасов, Е.И.
710	2		_aОрдена Ленина Всесоюзное общество "Знание"
710	2		_aОрдена Трудового Красного Знамени Политехнический музей
710	2		_aГосударственный комитет СССР по стандартам
710	2		_aВсесоюзный совет ордена Ленина научно-технических обществ
740	0	2	_aМетоды обработки цензурированных данных о надежности
942			_2udc _cBK