000			01149-am-a2200193-a-4500
001			000160741
005			20190422140244.0
008			950720s1985 xxu 000 0 ||| u
020			_c0.80
040			_aAM, AiYeEPHG, 99/06/21
245	0	0	_aПути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем : _bМатериалы III всесоюзного научно-технического семинара / _cРРТИ МВ и ССО РСФСР ; Отв. ред. П.Т. Орешкин.
260			_aРязань : _bРРТИ , _c1985.
300			_a175 с. : _bил.
504			_aБиблиогр. в конце докл.
650	1	4	_aЭлектроника
700	1		_aОрешкин, Павел Тимофеевич _eред. _4edt
710	2		_aРязанский радиотехнический институт. Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР
711	2		_aВсесоюзный научно-технический семинар _n( III, _cРязань, _d14-16 июня 1984 г. )
999			_c131233 _d131233