| 000 | 00650nam a2200157 u 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000160090 | ||
| 005 | 20190422140219.0 | ||
| 008 | 990224s1965 ||||||||||||||||||||rus d | ||
| 040 | _aAM, AiYeEPHG, 19990119 | ||
| 245 | 0 | 0 |
_aПрямые методы исследования дефектов в кристаллах : _bПер. с англ. / _cПер. О.Н. Ефимова и др. ; Под ред. А.М. Елистратова. |
| 260 |
_aМосква : _bМир, _c1965. |
||
| 300 | _a352 с. | ||
| 650 | 1 | 4 | _aКристаллография |
| 700 | 1 |
_aЕлистратов, А.М. _eред. _4edt |
|
| 700 | 1 |
_aЕфимов, О.Н. _eпер. _4trl |
|
| 999 |
_c130641 _d130641 |
||