000 02342nam a2200253 a 4500
003 AM-YeNLA
005 20241003142451.0
008 111014s2004 ai a|||fra||||||1|||rus||
040 _aAM-YeNLA
_brus
041 0 _arus
100 1 _aМнацаканян, Тамара Севоевна
_9190481
245 1 0 _aПрименение метода рентгеноинтерферометрического муара к исследованию структурных несовершенств в монокристаллах Si :
_bАвтореферат ... канд. физико-математических наук по спец. 01.04.07 - "Физика конденсированного состояния" /
_cТ.С. Мнацаканян ; Институт прикладных проблем физики НАН РА.
246 1 1 _aՌենտգենաինտերֆերոմետրական մուարի մեթոդի կիրառումը Si-ի միաբյուրեղներում կառուցվածքային անկատարելությունների ուսումնասիրության համար :
_bՍեղմագիր՝ Ա.04.07 «Կոնդենսացված վիճակի ֆիզիկա» մասնագիտությամբ ֆիզիկամաթեմատիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման /
260 _aЕреван,
_c2004.
300 _a19 с. ։
_bрис. :
_c21 см.
502 _aНаучный руководители: к.ф.-м.н. Ф.О. Эйрамджян, к.ф.-м.н. Р.И. Багдасарян ; Официальные оппоненты: д.ф.-м.н. Л.А. Кочарян, д.ф.-м.н. Л.А. Азизбекян ; Ведущая организация: Институт прикладных проблем физики НАН РА:
_cЕреванский государственный университет.
_d22-го апреля 2004г.
504 _aБибилиогр. в конце кн.
650 1 4 _aТехнические, Физико-математические науки
650 1 4 _aФизика конденсированного состояния
_9166908
655 7 _aՍեղմագրեր
_985752
710 2 _aИнститут прикладных проблем физики НАН РА
_9176298
942 _cTH
_2udc
998 _cKlara
999 _c1074893
_d1074893