| 000 | 01250nam a2200229 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000731312 | ||
| 003 | AM-YeNLA | ||
| 005 | 20240803073517.0 | ||
| 008 | 100426s1990 ai fra 000 0 rus d | ||
| 041 | 0 | _arus | |
| 100 | 1 |
_aБутаев, Александр Георгиевич _9188460 |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aРазработка и исследование тестовых структур для контроля параметров полупроводниковых структур методом фотоответа : _bАвтореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / _cМНО АрмССР, ЕрОТКЗПИ. |
| 260 |
_aЕреван, _c1990. |
||
| 300 | _a25 с. | ||
| 502 | _aНауч. рук. В.Н. Амазаспян | ||
| 650 | 1 | 4 | _aТвердотельная электроника |
| 650 | 1 | 4 |
_aТвердотельная микроэлектроника _9188461 |
| 655 | 0 |
_aThesis _9144282 |
|
| 710 | 2 |
_aМинистерство народного образования Армянской ССР _9168230 |
|
| 710 | 2 |
_aЕреванский ордена трудового красного знамени политехнический институт им. К.Маркса _9188462 |
|
| 999 |
_c1072481 _d1072481 |
||
| 942 | _cTH | ||