| 000 | 00716nam a2200169 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000133936 | ||
| 005 | 20230827125333.0 | ||
| 008 | 990613s1964 ||||||||||||||||||||rus d | ||
| 040 | _aAM, AiYeEPHG, 99/06/13 | ||
| 245 | 0 | 0 |
_aОбеспечение надежности полупроводниковых устройств / _cПер. с англ. под ред. А.С. Савиной. |
| 260 |
_aМосква : _bМир, _c1964. |
||
| 300 |
_a464 с. _bил. |
||
| 534 |
_pОригинал на англ. : _iSemiconductor Reliability / _aWilliam H. - _cNew Jersey : Engineering Publishers Elizabeth : 1962 |
||
| 650 | 1 | 4 | _aМашиностроение |
| 700 | 1 |
_aСавина, А.С. _eред. _4edt |
|
| 999 |
_c107081 _d107081 |
||
| 942 | _cBK | ||