000 | 01403nam a2200241 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000537727 | ||
003 | AM-YeNLA | ||
005 | 20241023073034.0 | ||
008 | 070522s1992 ai fra 000 0 rus d | ||
041 | 0 | _arus | |
100 | 1 |
_aСтепанян, Степан Хачатурович _9174901 |
|
245 | 1 | 0 |
_aРазработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем : _bАвтореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 : 05.27.01 / _cМНОРАрм., ЕрПИ. |
260 |
_aЕреван, _c1992. |
||
300 | _a16 с. | ||
502 | _aНауч. рук. В.Н. Амазаспян | ||
650 | 1 | 4 | _aЭлементы и устройства вычислительной техники и систем управления |
650 | 1 | 4 |
_aТвердотельная электроника и микроэлектроника ь _9174902 |
650 | 1 | 4 |
_aПолупроводниковые приборы _9174903 |
655 | 0 |
_aThesis _9144282 |
|
710 | 2 |
_aМинистерство народного образования Республики Армения _9169532 |
|
710 | 2 | _aЕреванский политехнический институт | |
999 |
_c1063639 _d1063639 |
||
942 | _cTH |