000 01403nam a2200241 a 4500
001 000537727
003 AM-YeNLA
005 20241023073034.0
008 070522s1992 ai fra 000 0 rus d
041 0 _arus
100 1 _aСтепанян, Степан Хачатурович
_9174901
245 1 0 _aРазработка и исследование метода дифференциальных фотоответных изображений для диагностики дефектов полупроводниковых приборов и интегральных схем :
_bАвтореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 : 05.27.01 /
_cМНОРАрм., ЕрПИ.
260 _aЕреван,
_c1992.
300 _a16 с.
502 _aНауч. рук. В.Н. Амазаспян
650 1 4 _aЭлементы и устройства вычислительной техники и систем управления
650 1 4 _aТвердотельная электроника и микроэлектроника ь
_9174902
650 1 4 _aПолупроводниковые приборы
_9174903
655 0 _aThesis
_9144282
710 2 _aМинистерство народного образования Республики Армения
_9169532
710 2 _aЕреванский политехнический институт
999 _c1063639
_d1063639
942 _cTH