000 01455nam a2200241 a 4500
001 000479031
003 AM-YeNLA
005 20221211223712.0
008 060313s2005 ||| frm 000 0 rus d
041 0 _arus
100 1 _aДрмеян, Генрик Рубенович
_9169205
245 1 0 _aРазработка теоретических и экспериментальных основ новых рентгенодифракционных методов выявления структурных несовершенств кристаллических материалов :
_bДис. ... д-р техн. наук : 05.16.01 /
_cМОиН РА, ГИУА.
260 _aЕреван,
_c2005.
300 _a272 с. :
_bил., табл.
504 _aСписок лит. с. 262-271
650 1 4 _aМатериаловедение и композиционные материалы
650 1 4 _aКристаллография
_9167150
650 1 4 _aРентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей
655 7 _aDissertation
710 2 _aМинистерство образования и науки Республики Армения
_9152964
710 2 _aГосударственный инженерный университет Армении
_9157848
999 _c1061372
_d1061372
942 _cTH