Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой.

Կողմից։

Աջակցող(ներ)։

Նյութի տեսակ։

ՏեքստՀրատարակման մանրամասներ։ Санкт-Петербург : Наука, 2002.Նկարագրություն։ 273 с. илISBN:

Այլ վերնագիր։

Խորագրեր։

Ցուցիչներ այս գրադարանից: Չկան ցուցիչներ այս գրադարանի այս վերնագրի համար. Մուտք գործիր ցուցիչներ ավելացնելու համար.

Պահումներ
Նյութի տեսակ	Ընթացիկ գրադարան	Հավաքածու	Դարակային համար	Վիճակ	Նշումներ	Վերադարձի ամսաթիվ	Շտրիխ կոդ
Book	Fundamental Scientific Library	General	621.38 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում))	Հասանելի	25 Days Loan		120649677

Библиогр. в конце гл.

Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։

ուղարկել մեկնաբանություն։