Semiconductor measurements and instrumentation / by W.R. Runyan and T.J. Shaffner.

Կողմից։

Աջակցող(ներ)։

Նյութի տեսակ։

ՏեքստՀրատարակման մանրամասներ։ New York, N.Y. : McGraw Hill, 1998.Հրատարակություն։ 2nd edՆկարագրություն։ x, 454 p. : ill. ; 24 cmISBN:

Խորագրեր։

Առցանց պաշարներ։

Մասնակի Բովանդակություն:

Crystal orientation--Crystal defects--Impurity concentration--Resistivity, sheet resistance, and contact resistance.

Ցուցիչներ այս գրադարանից: Չկան ցուցիչներ այս գրադարանի այս վերնագրի համար. Մուտք գործիր ցուցիչներ ավելացնելու համար.

Պահումներ
Նյութի տեսակ	Ընթացիկ գրադարան	Հավաքածու	Դարակային համար	Վիճակ	Նշումներ	Վերադարձի ամսաթիվ	Շտրիխ կոդ
Book	American University Library of Armenia	Ընթերցասրահ	621.38 RUN (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում))	Հասանելի	76		AUA-PL-0014942

Includes bibliographical references and index.

Crystal orientation--Crystal defects--Impurity concentration--Resistivity, sheet resistance, and contact resistance.

Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։

ուղարկել մեկնաբանություն։