Պատկեր Amazon.com -ից
X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures : A Method for In Situ Proces Analysis / D.D.L. Chung et al.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Անգլերեն Հրատարակման մանրամասներ։ New York ; Weinheim : VCH Publishers, Inc., 1993.Նկարագրություն։ 268 p. : figISBN: - 0-89573-745-0
- 3-527-27842-7
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
Engineering University Library | Արտասահմանյան գրականության ընթերցասրահ | 548 R-29 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Three Hour Loan | EU0505485 |
Includes Bibliographical References and Index.
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։