Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1958-1975 гг.) / Ю.М. Литвинов, Т.И. Ольховикова, Ф.Р. Хашимов; М-во электронной пром-сти СССР.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Մատենաշար։ Обзоры по электронной технике ; Серия 6, Материалы ; Вып. 3(373)Հրատարակման մանրամասներ։ Москва : Б. и., 1976.Նկարագրություն։ 34 с. : ил. ; 21 смԽորագրեր։
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
National Library of Armenia | Depository | 621.315 / Л-646 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Սպասարկվում է 30 օրով | NL1252261 |
На обл. перед загл. авт.
Библиогр.: с. 31-34
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։