Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева / Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский; АН СССР. Ин-т точной механики и вычисл. техники им. С.Л. Лебедева.
Նյութի տեսակ։![Տեքստ](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Fundamental Scientific Library | General | PII/381663 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | 30 Days Loan | FL0361328 | ||
![]() |
National Library of Armenia | Depository | 681.3 / А-169 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | Մեկ ամիս | NL1924798 |
Библиогр.: с. 17
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։