Разработка и исследование тестовых структур для контроля параметров полупроводниковых структур методом фотоответа : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / МНО АрмССР, ЕрОТКЗПИ.
Նյութի տեսակ։![Տեքստ](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Engineering University Library | Ատենախոսությունների և սեղմագրերի ընթերցասրահ | 621.382:004.38(043.3) Б-93 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | One Hour Loan | EU0409540 |
Науч. рук. В.Н. Амазаспян
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։