Разработка и исследование тестовых структур для контроля параметров полупроводниковых структур методом фотоответа : Автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / МНО АрмССР, ЕрОТКЗПИ.
Նյութի տեսակ։
ՏեքստԼեզու: Ռուսերեն Հրատարակման մանրամասներ։ Ереван, 1990.Նկարագրություն։ 25 сԽորագրեր։ Ժանր/Ձև։ Ատենախոսության նշում: Науч. рук. В.Н. Амазаспян
| Նյութի տեսակ | Ընթացիկ գրադարան | Հավաքածու | Դարակային համար | Վիճակ | Նշումներ | Վերադարձի ամսաթիվ | Շտրիխ կոդ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Dissertation, Thesis
|
Engineering University Library | Ատենախոսությունների և սեղմագրերի ընթերցասրահ | 621.382:004.38(043.3) Б-93 (Դիտման դարակ(Բացվում է ներքևում)) | Հասանելի | One Hour Loan | EU0409540 |
Науч. рук. В.Н. Амазаспян
Այս վերնագրի համար չկան մեկնաբանություններ։
Մուտք գործիր քո հաշիվ ուղարկել մեկնաբանություն։