Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева /
Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский; АН СССР. Ин-т точной механики и вычисл. техники им. С.Л. Лебедева.
- Москва : Б. и., 1976.
- 17 с. : ил. ; 22 см.
- 681.3 (NLA) .