Валиев, Руслан Зуфарович <br/><br/>
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / 
Р.З. Валиев, А.Н. Вергазов, В.Ю. Герцман 
 - Москва :  Наука ,  1991. 
 - 230,[1] с.  и  .  22 см. 
<br/><br/> Библиогр.: с. 221-225 (115 назв.) 
<br/><br/>АН СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов 
<br/><br/><label>ISBN: </label>5-02-000195-3  2.70 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Кристаллография<br/>Электронная микроскопия