Kopaczynska, Marta Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali / Marta Kopaczynska. - Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2010. - 117 p. : ill., tabs. Bibliogr.: p. 103-112 ISBN: 978-83-7493-514-2 Subjects--Topical Terms: Atomic force microscopy