Kopaczynska, Marta

Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali / Marta Kopaczynska. - Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2010. - 117 p. : ill., tabs.

Bibliogr.: p. 103-112

978-83-7493-514-2


Atomic force microscopy