Докучаев, Ю.П. <br/><br/>
Использование метода каналирования для исследования поверхностных ионнолигированных слоев в полупроводниках :  обзоры по электронной технике / 
Ю.П. Докучаев, И.И. Разгуляев; М-во электронной пром-ти, ЦНИИ "Электроника". 
 - Москва :  Изд-во ЦНИИ "Электроника",  1974. 
 - 54 с. 
 - Полупроводниковые приборы .
<br/><br/>Библиогр.: с. 49 - 53 (88 назв.) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Физика полупроводников
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>тяжелые заряженные частицы решетка кристалла