Александров, Леонид Наумович. <br/><br/>
Применение метода внутреннего трения для исследования полупроводников / 
Л.Н. Александров, М.И. Зотов; Мин-во электр. пром-сти СССР. 
 - Москва :  Изд-во ин-та Электроника,  1970. 
 - 23 с. :  рис. 
 - Обзоры по электронной технике Полупроводниковые приборы  вып. №7 (215) .
<br/><br/>Библиогр.: с. 21 - 22 (39 назв.) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Полупроводники
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>микроэлектроника